Microscopi a scansione di forza (SPM) per uso didattico e di ricerca:

FSM Nanoview-1000/2000:

il più economico AFM ad alta risoluzione

Caratteristiche:

• Sospensioni a molla per alta reiezione delle vibrazioni
• Sistema a leva-ottica con punte commerciali (microleve)
• Posizionamento XY micrometrico della punta sul campione
• Microscopio ottico sulla verticale facilita l’allineamento del fascio laser
• Scanners da 10x 10 um, 20×20 um , 50×50 um, 100x100um
• Risoluzione: Laterale  0.2 nm ,  Verticale 0.05 nm
• Immagini:   512×512 px
• Modalità di acquisizione: Standard: Contatto o Tapping; Opzionali:  Forza laterale, Fase, EFM, MFM
• Velocità di scansione:  0.6Hz – 4 Hz
• Direzione di scansione: qualsiasi angolo
• Dimensione massima campione: φ<90 mm H<20 mm
• Sistema operativo : Windows XP/7/8/10

Nuova testa per misure in liquido, atmosfera e temperatura controllata

Immagini di Quantum Dots ottenute con NanoView